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Casa > prodotti > Sonde di prova a molla >
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing

Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing

Gold Plated Spring Test Probe

2A Current Rating Test Probe

Custom Sizes Semiconductor Test Pin

Luogo di origine:

Cina

Marca:

WINNER

Certificazione:

ISO9100

Contattici
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Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing
Dettagli del prodotto
Nome del prodotto:
sonda di prova a molla
barile:
PB, Palato d'oro
Stantuffo inferiore:
BeCu/SK4, placcato oro
Stantuffo SUPERIORE:
SK4(Be Cu)/Placcato in oro
PRIMAVERA:
SWPB(SUS)/Placcato in oro
Disponibilità:
Dimensioni personalizzate disponibili
Rivestimento:
Oro placcato
Valutazione attuale:
2a
Resistenza di contatto:
100 mAh massimo
Larghezza di banda:
-0,44 dB a 19,6 GHz
induttanza:
1,36nH
Captazione:
1,76pF
Full Actus:
1,8 mm
Corso nominale:
1,8 mm
Forza di molla:
40 grammi @ 1,8 mm
La vita meccanica supera:
200k
Evidenziare:

Gold Plated Spring Test Probe

,

2A Current Rating Test Probe

,

Custom Sizes Semiconductor Test Pin

Termini di trasporto & di pagamento
Quantità di ordine minimo
3000pcs
Prezzo
999
Imballaggi particolari
Imballaggio neutrica o con logo OEM
Tempi di consegna
5-8 giorni lavorativi
Termini di pagamento
L/C, Western Union, T/T
Capacità di alimentazione
100000 rotoli al mese
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Contattici
Contatto ora
Descrizione di prodotto
High Quality Switch Contact Pin Test Probe YF DE1-048DB81-01C0
High Efficiency BGA Testing Probes
Precision spring-loaded semiconductor test pins designed for reliable performance in demanding testing applications.
Key Product Features
  • High Conductivity Gold Plating: Gold-plated plunger and barrel ensure low contact resistance and stable signal transmission
  • Multiple Tip Styles: Available in B tip (60° cone), U tip, D tip, and fully customized geometries
  • Durable Spring Structure: Stainless steel spring (SUS material) provides stable working stroke and reliable contact force
  • Custom Manufacturing: OEM/ODM accepted with fast delivery from our factory
Product Images
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 0
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 1
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 2
Detailed Component Illustration
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 3
Comparison of different test probe tip types and configurations
Customization Options
SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. offers comprehensive customization for our brass barrel stainless steel spring test probes:
  • Custom diameters to match your specific requirements
  • Custom plating thicknesses for optimal conductivity and durability
  • Custom mechanical specifications tailored to your application
All products include material traceability documentation and certificate of analysis for quality assurance. Contact us to request samples or a quotation for your specific application requirements.
Manufacturing Process
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 4
Our probe manufacturing facility
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 5
Quality control inspection
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 6
Packaged probes ready for shipment
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